更新時(shí)間:2024-12-10
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模擬氣候恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)箱,高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱,普云牌PY-E503型恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)性能參數(shù):該設(shè)備是測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫的急劇變化的環(huán)境,試驗(yàn)產(chǎn)品于熱漲冷縮產(chǎn)生的物理傷害或化學(xué)變化,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),用途用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化。
模擬氣候恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)箱,高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱,普云牌PY-E503型恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)箱,冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)性能參數(shù):該設(shè)備是測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫的急劇變化的環(huán)境,試驗(yàn)產(chǎn)品于熱漲冷縮產(chǎn)生的物理傷害或化學(xué)變化,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),用途用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè),BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化。
一、性能特點(diǎn):
1、具有預(yù)約起動(dòng)功能;
2、可選擇始動(dòng)位置,高溫或低溫開(kāi)始循環(huán);
3、氣動(dòng)式閥門(mén)方便開(kāi)啟,保證氣密及斷熱保護(hù);
4、試驗(yàn)槽*靜止,可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線;
5、溫度控制精度高,全部采用PID自動(dòng)演算控制;
6、蓄能方式可避免使用者職業(yè)傷害。
二、技術(shù)參數(shù):
1、溫度范圍:高溫箱:+60℃~200℃;低溫箱:0℃~-70℃;
2、溫度波動(dòng)度:±0.5℃;
3、溫度均勻:±2℃;
4、升溫速率:≤5℃/min;(全程平均)
5、降溫速率:≤5℃/min;;(全程平均)
6、預(yù)冷下限溫度:≤-70℃;
7、沖擊溫度:+150~-60℃;
8、樣品架尺寸:150×150mm;
9、溫度恢復(fù)時(shí)間:5min;
10、樣品架轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤8s;
11、沖擊方式:上下移動(dòng)提籃式或翻板式
12、電源:380V±10﹪50Hz
三、產(chǎn)品型號(hào)及尺寸:(W×H×D)(mm)
深圳市普云電子有限公司出品的-模擬氣候環(huán)境設(shè)備設(shè)備—高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱-特殊要求可根據(jù)顧客要求定制,常規(guī)尺寸如下:
1、PY-E503-80 內(nèi)箱尺寸:500×400×400;
2、PY-E503-150 內(nèi)箱尺寸:600×500×500;
3、PY-E503-225 內(nèi)箱尺寸:750×600×500;
4、PY-E503-500 內(nèi)箱尺寸:900×800×700;
5、PY-E503-800 內(nèi)箱尺寸:1000×1000×800;
6、PY-E503-100 內(nèi)箱尺寸:1000×1000×1000.
四、產(chǎn)品結(jié)構(gòu):
1、內(nèi)箱材質(zhì):SUS #304 鏡面不銹鋼板
2、外箱材質(zhì):SUS #304 不銹鋼板或冷軋鋼板烤漆
3、保溫材質(zhì):硬質(zhì)Polyurethane發(fā)泡+玻璃棉
五、制冷系統(tǒng):
1、制冷系統(tǒng)及壓縮機(jī):為了保證試驗(yàn)箱降溫速率和min低溫度的要求,本試驗(yàn)箱采用一套壓縮機(jī)所組成的二元復(fù)疊式風(fēng)冷或水冷制冷系統(tǒng)。壓縮機(jī)采用全封閉式“泰康”牌壓縮機(jī)或半封閉式“比澤爾”牌壓縮機(jī);
2、冷卻方式:水冷或風(fēng)冷系統(tǒng)。
以上是關(guān)于冷熱沖擊試驗(yàn)箱性能參數(shù),可分為吊籃兩箱式與三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱,外殼有不銹鋼噴塑與不銹鋼,規(guī)格型號(hào)可以根據(jù)產(chǎn)品大小選擇,歡迎垂詢或者留言。
深圳市普云電子有限公司出品的-模擬氣候環(huán)境設(shè)備設(shè)備—恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)箱-特殊要求可根據(jù)顧客要求定制,是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域*的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
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